SPECT性能檢測(cè)模體可以用于檢測(cè)固有空間分辨力、固有空間線性、斷層冷區(qū)分辨力、斷層熱區(qū)分辨力、斷層空間線性、斷層均勻性、斷層空間分辨力。系統(tǒng)平面靈敏度模體用于檢測(cè)系統(tǒng)平面靈敏度。平行雙線源模體用于檢測(cè)系統(tǒng)空間分辨力，配套軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。三線源模體用于檢測(cè)斷層空間分辨力，配套軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

技術(shù)特點(diǎn)：

1、配有專用圖像分析系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)平面靈敏度、系統(tǒng)空間分辨力、系統(tǒng)均勻性、斷層空間分辨力、斷層冷區(qū)分辨力、斷層熱區(qū)分辨力、斷層空間線性、斷層均勻性的計(jì)算。

2、軟件可實(shí)現(xiàn)改項(xiàng)目原始記錄電子化，自動(dòng)計(jì)算檢測(cè)結(jié)果并生成數(shù)據(jù)頁(yè)；原始記錄自動(dòng)保留修改痕跡，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)立式溯源。

SPECT性能檢測(cè)模體可以用于檢測(cè)固有空間分辨力、固有空間線性、斷層冷區(qū)分辨力、斷層熱區(qū)分辨力、斷層空間線性、斷層均勻性、斷層空間分辨力。系統(tǒng)平面靈敏度模體用于檢測(cè)系統(tǒng)平面靈敏度。平行雙線源模體用于檢測(cè)系統(tǒng)空間分辨力，配套軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。三線源模體用于檢測(cè)斷層空間分辨力，配套軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

技術(shù)特點(diǎn)：

1、配有專用圖像分析系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)平面靈敏度、系統(tǒng)空間分辨力、系統(tǒng)均勻性、斷層空間分辨力、斷層冷區(qū)分辨力、斷層熱區(qū)分辨力、斷層空間線性、斷層均勻性的計(jì)算。

2、軟件可實(shí)現(xiàn)改項(xiàng)目原始記錄電子化，自動(dòng)計(jì)算檢測(cè)結(jié)果并生成數(shù)據(jù)頁(yè)；原始記錄自動(dòng)保留修改痕跡，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)立式溯源。